晶圆探针台

型号：LNP-3RT/3
应用领域：
晶圆探针台为小尺寸样品测量电特性提供高精度可控测量环境。 探针台可实现精准可靠的测试与测量分析，帮助精准测量和分析判断晶圆器件的性能，包括提供材料/器件的IV/CV特性测试、LD/LED/PD的光强/波长测试，射频特性器件失效分析，芯片内部线路/电极/PAD测试等技术解决方案
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