热电参数测试系统

型号：Namicro-3
应用领域：
热电参数测试系统 Namicro 采用准动态法和四探针法分 别测量样品的Seebeck 系数和电阻率。主要是用于测试块体 热电材料，包括康铜、镍、钨等金属，Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、 CuGaTe2、GeTe、CuS、Cu2ZnSnSe4等半导体及化合物，以及PANI、PEDOT等高分子聚合物。
在线咨询