霍尔效应测试系统

型号：HET系列
应用领域：
材料物理创新实验教学备霍尔效应测试系统 HET 是依据范德堡法测量材料的电运输性能参数：载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或薄层材料均可测量. 可应用于所有半导体材料，包括 Si、ZnO、SiGe、SiC， GaAs，InGaAs，InP，GaN（N型&P型均可测量）, 广泛应 用于国内高校、研究所、半导体、金属、高热导有机新材料 等行业。
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